Ang
silid ng pagsubok sa temperaturaay nahahati sa mataas at mababang temperatura test chamber, mataas at mababang temperatura alternating damp heat test chamber, temperature impact test chamber, mataas at mababang temperatura damp heat test chamber at pare-pareho ang temperatura at halumigmig test chamber.
Ang Temperature Test Chamber ay naaangkop sa pag-inspeksyon ng iba't ibang mga index ng pagganap ng mga produkto ng aerospace, impormasyon ng mga instrumento at metro ng elektroniko, mga materyales, mga electrician, mga produktong elektroniko, at iba't ibang mga elektronikong sangkap sa mataas at mababang temperatura o mahalumigmig at mainit na kapaligiran.
Istraktura ng Kahon
Ang katawan ng kahon ay pinoproseso ng isang numerical control machine tool, na may maganda at mapagbigay na hugis, at gumagamit ng reaction free handle, na madaling patakbuhin.
Temperatura uri ng pagsubok kamara
Ang panloob na tangke ng kahon ay gawa sa imported na high-grade stainless steel (SUS304) mirror panel, at ang panlabas na tangke ng kahon ay gawa sa A3 steel plate, na nagpapataas ng texture at kalinisan ng hitsura.
Ang make-up water tank ay matatagpuan sa kanang ibaba ng control box, at may awtomatikong proteksyon laban sa kakulangan ng tubig, na mas maginhawa para sa operator na maglagay muli ng tubig.
Ang malaking observation window ay nilagyan ng lighting lamp upang panatilihing maliwanag ang kahon, at ang heating body na naka-embed na tempered glass ay ginagamit upang malinaw na obserbahan ang kalagayan ng kahon anumang oras.
Ang pipeline ng humidification system ay nakahiwalay sa control circuit board, na maaaring maiwasan ang pagkabigo dahil sa pagtagas ng tubig ng humidification pipeline at mapabuti ang kaligtasan.
Ang pipeline circuit system ng waterway system ay maginhawa para sa maintenance at overhaul.
Ang kahon ay insulated na may ultra-fine glass fiber insulation cotton upang maiwasan ang hindi kinakailangang pagkawala ng enerhiya.
Ang isang 50mm diameter test hole ay ibinibigay sa kaliwang bahagi ng kahon, na maaaring gamitin para sa panlabas na pagsubok na mga linya ng kuryente o mga linya ng signal.
